Siglent SDS5034X HD Digitale oscilloscoop

Overzicht

De Siglent SDS5034X HD is een 12-bits digitale opslagoscilloscoop met hoge resolutie en 4 kanalen, ontworpen voor geavanceerde signaalanalyse. Met een bandbreedte van 350 MHz en een bemonsteringssnelheid van 5 GSa/s met een geheugendiepte tot 2,5 Gpts, zorgt het voor uitzonderlijke signaalduidelijkheid en detail. Het HD 1280×800 capacitief touchscreen, de mogelijkheid voor weergave met meerdere vensters en het responsieve frontpaneel vereenvoudigen complexe meetworkflows in laboratoriumomgevingen.

Belangrijkste functies

• 12-bit ADC (Analog-to-Digital Converter) voor superieure resolutie en lage ruisvloer (140 μVrms @ 1 GHz typisch)
• Bandbreedte van 350 MHz met 4 analoge kanalen plus externe trigger
• Werkelijke bemonstering van 5 GSa/s met maximale golfvormlengte van 2,5 Gpts per kanaal
• Opnamesnelheid van 160.000 golfvormen/s in normale modeus (650.000 golfvormen/s in reeksmodeus)
• Intelligente triggering: rand, helling, puls, venster, runt, interval, uitval, patroon, gekwalificeerd, Nde rand, setup/hold, vertraging en videotrigger met vereenvoudigde zonetrigger
• Seriebustrigger en decodering voor I2C, SPI, UART, CAN, LIN, CAN FD, FlexRay, I2S, MIL-STD-1553B, SENT, Manchester en ARINC429
• 60+ geautomatiseerde metingen met statistieken, histogram, trend en gatingfuncties
• 8 wiskundige sporen met 8 Mpts FFT, filter, rekenkundige bewerkingen, integratie, differentiatie en formulaeditor
• Opnamehistorie golfvormen met capaciteit tot 170.000 frames
• Gesegmenteerde acquisitie (Sequence) modeus voor opname van kwalificerende gebeurtenissen met minimale dode tijd
• Geïntegreerde gereedschappen: vermogensanalyse, driesfasevermogensmetingen, Bode-diagram, maskertest, teller en digitale voltmeter
• Optioneel 16 digitale kanalen (SPL2016 probe) voor gemengde signaalanalyse
• USB 3.0 Host/Device, 1000M LAN, HDMI en 10 MHz referentie ingang/uitgang connectiviteit
• Ingebouwde webserver voor afstandsbediening via LAN zonder stuurprogramma-installatie

Toepassingen

• Testen van halfgeleiders met brede bandafstand (SiC, GaN) met picoseconde-niveau stijgtijdmeting
• Analyse van vermogenselektronica en schakelovergangseffecten
• Analyse van seriële protocollen en foutopsporing van ingesloten systemen
• Beoordeling van signaalintegriteit en validatie van circuitontwerp
• Onderwijs- en onderzoekslaboratoria
• Geautomatiseerde testapparaten met mogelijkheid voor afstandsbediening

Inclusieve accessoires

• 1 passieve probe per kanaal (4 totaal)
• USB-kabel
• Draadloze muis
• Stroomkabel
• Snelstartgids
• Kalibratiecertificaat