Keysight B2911A Bron/Meet-Eenheid
Keysight B2911A Source Measure Unit
Keysight B2911A eén-kanaal bron/meet-eenheid met 210V maximale spanning, 3A DC en 10,5A pulsestroom, 10 fA/100 nV resolutie voor halfgeleiderwerk.
Productdetails
| Model | B2911A |
| Fabrikant | Keysight |
| Categorie | LCR- en impedantieanalysators |
| Beschikbaarheid | Op bestelling |
Beschrijving
Overzicht
De Keysight B2911A is een compacte eén-kanaal precisie bron/meet-eenheid ontworpen voor veelzijdige IV-meettaken met hoge nauwkeurigheid en resolutie. Het biedt een breed uitgangsbereik van ±210 V, ±3 A DC, en ±10,5 A pulsde mogelijkheid met meetresolutie zo fijn als 10 fA voor stroom en 100 nV voor spanning. De geïntegreerde vier-kwadranten source- en meettmogelijkheden maken nauwkeurige elektrische karakterisering van een breed scala aan apparaten mogelijk zonder meerdere instrumenten of complexe opstellingen te vereisen.
De eenheid heeft een intuïtieve 4,3-inch kleurenLCD-display met grafische en numerieke weergavemodi, waardoor snelle configuratie en datavisualisatie rechtstreeks vanaf het voorpaneel mogelijk zijn. Ingebouwde willekeurige golfvormgeneratie en digitalisermogelijkheden met 10 microseconden-intervallen bieden uitgebreide flexibiliteit voor dynamische elektrische karakterisering. Meerdere softwarebesturingsopties en SCPI-opdrachtondersteuning maken naadloze integratie in geautomatiseerde testomgevingen mogelijk en ondersteunen conventionele SMU-opdrachtcompatibiliteit.
Belangrijkste kenmerken
- Eén-kanaal configuratie met 4-kwadranten sourcing en meting
- Maximum 210 V uitgang, 3 A DC / 10,5 A pulsestroom
- 10 fA/100 nV bron- en meetresolutie
- Geïntegreerde 4-kwadranten spanning- en streommogelijkheden
- 4,3-inch kleurenLCD-display met grafische en numerieke weergavemodi
- Willekeurige golfvormgeneratie en digitalisering vanaf 10 microsecondenintervallen
- Hoge doorvoermetingen met SCPI-opdrachtondersteuning
- USB-, LAN-, GPIB- en digitale I/O-interfaces voor flexibele integratie
Toepassingen
- Karakterisering van optische apparaten (laserdiodes, fotodiodes)
- Testen van organische apparaten (OLED's)
- Karakterisering van fotovoltaïsche cellen
- Testen van nanotechnologie-materialen
- Testen van energiebeheerapparaten (LDO's, regelaars)
- Karakterisering van halfgeleiderapparaten (FET's, transistoren, diodes)
- Componententesten en O&O-toepassingen
Specificaties
| High Frequency (range) | DC <= 1kHz |
Offerte aanvragen
Keysight B2911A Bron/Meet-Eenheid