Tektronix SUP5-WBG-DPT Wide Bandgap SiC GaN dubbele pulstest-applicatie
Tektronix SUP5-WBG-DPT Wide Bandgap SiC GaN Double Pulse Test Application
Tektronix SUP5-WBG-DPT dubbele pulstest-applicatie voor karakterisering en analyse van wide-bandgap SiC en GaN halfgeleiderapparaten op MSO 5 Series oscilloscopen.
Productdetails
| Model | SUP5-WBG-DPT |
| Fabrikant | Tektronix |
| Categorie | Oscilloscoopaccessoires |
| Beschikbaarheid | Op bestelling |
Beschrijving
Overzicht
De Tektronix SUP5-WBG-DPT is een meetapplicatie ontworpen voor het MSO 5 Series oscilloscoop platform, waarmee uitgebreide karakterisering van wide-bandgap (WBG) halfgeleiderapparaten, inclusief siliciumcarbide (SiC) en galliumnitride (GaN) componenten, mogelijk is. De dubbele pulstest (DPT) methodologie voorziet in nauwkeurige evaluatie van apparaatprestaties, schakelgedrag en thermische kenmerken essentieel voor vermogenselektronicaontwikkeling.
Belangrijkste kenmerken
- Dubbele pulstest methodologie voor uitgebreide apparaatkarakterisering
- Ondersteuning voor SiC en GaN wide-bandgap halfgeleiderapparaten
- Geïntegreerde analysetools voor schakelgedrag en prestatiemetrieken
- Naadloze integratie met MSO 5 Series oscilloscoop platform
Toepassingen
- Karakterisering en validatie van wide-bandgap halfgeleiderapparaten
- Vermogenomzetter- en omvormersontwikkeling
- Evaluatie van schakelprestaties
- Onderzoeks- en ontwikkelingswerkzaamheden op het gebied van vermogenselektronica
Specificaties
| Application Type | Double Pulse Test (DPT) |
| Compatible Devices | SiC and GaN Wide-Bandgap Semiconductors |
| Compatible Platform | MSO 5 Series Oscilloscopes |
| License Type | NL (Non-Limited) |
Offerte aanvragen
Tektronix SUP5-WBG-DPT Wide Bandgap SiC GaN dubbele pulstest-applicatie