Keithley KTH 2470 SourceMeter-instrument

Overzicht

Het Keithley KTH 2470 SourceMeter-instrument is een volgende generatie source measure unit (SMU) die precisie meettechnieken tot 1100V, 1A, 20W combineert met een intuïtieve capacitieve touchscreen-interface. Geoptimaliseerd voor karakterisering en testen van high-voltage-, low-leakage-apparaten zoals silicium carbide (SiC), gallium nitride (GaN), power MOSFET's en power modules, maakt de 2470 gebruik van decennia aan Keithley-expertise om zowel precisie als gebruiksgemak in laboratorium- en testrackomgevingen te leveren.

Belangrijkste kenmerken

• 0,012% basisnauwkeurigheid met 6½-digit resolutie
• 1100V / 1A DC maximale mogelijkheid met 10 fA meetsresolutie
• Vijf inch kleur capacitieve touchscreen met pictogramgebaseerde menustructuur
• Four-quadrant source- en sink-werking
• Meerdere programmeeringsmodi: TSP scripting en 2450 SCPI compatibiliteit
• Ingebouwde contextgevoelige hulp die installatiesstappen met 50% reduceert
• Frontpaneel banaanstekkers en achterpaneel triaximale verbindingen
• Uitgebreide connectiviteit: GPIB, USB 2.0, LXI/Ethernet, D-sub 9-pin digitale I/O

Toepassingen

• Karakterisering van silicium carbide (SiC) en gallium nitride (GaN) halfgeleiderapparaten
• Power MOSFET en transient suppression device testen
• Circuit protection device en power module evaluatie
• Batterij- en materialentesten met high-voltage-, low-leakage vereisten
• I-V karakterisering en device parametrische testen

Inbegrepen accessoires

• High performance testleidingen
• USB Type B naar Type A kabel
• CS-1616-3 veiligheidsvergrendelingskoppelconnector
• CA-180-3A TSP-Link/Ethernet-kabel
• Snelstartgids en downloadbare documentatie