Keithley 2520 Gepulseerd laserdiodetestsysteem

Overzicht

Keithley 2520 Gepulseerd laserdiodetestsysteem is een geïntegreerd, gesynchroniseerd systeem ontworpen voor het testen van laserdiodes in een vroeg stadium van het productieproces, voordat verpakking of actieve temperatuurcontrole wordt toegepast. Het combineert alle bron- en meetmogelijkheden die nodig zijn voor gepulseerde en continue LIV (licht-stroom-spanning) tests in één compacte, halfrack-instrument. De nauwe synchronisatie tussen bron en meting garandeert hoge nauwkeurigheid zelfs met pulsbreedten zo kort als 500ns, wat het ideaal maakt voor in-process produktietesting van laserdiodes op chip- of balksniveau.

Belangrijkste kenmerken

• Geïntegreerde oplossing voor gepulseerde en continue LIV-testen van laserdiodes
• Pulsgeschikt tot 5A; DC geschikt tot 1A
• Programmeerbare pulsaan-tijd van 500ns tot 5ms met tot 4% taakdictum
• 14-bits meetnauwkeurigheid op drie meetkanalen (VF, front fotodiode, back fotodiode)
• Gesynchroniseerde DSP-gebaseerde meetkanalen voor zeer nauwkeurige lichtintensiteits- en spanningsmetingen
• Tot 1000-puntsvouwen opgeslagen in buffgeheugen om GPIB-verkeer tijdens test te elimineren
• Meetalgoritme verhoogt signaal-ruis-verhouding van pulsmetingen
• Digitale I/O binning en verwerkingsbewerkingen
• Sweep kan worden geprogrammeerd om te stoppen op optische vermogenslimiet
• IEEE-488 en RS-232 interfaces

Toepassingen

• Produktietesting van laserdiodes op chip- of balksniveau
• Vroege kwaliteitszekerheid in de fabricage vóór verpakking
• Optisch vermogen en elektrische karakterisering van laserdiodes
• Gepulseerde en DC-testing van halfgeleideropto-bronnen

Inbegrepen accessoires

• Gebruikershandleiding
• Snelreferentiegids
• Triax-kabel (Qty 2)
• BNC 10W coaxiale kabels (Qty 4)